| 仪器名称 | X射线衍射仪（D8 Advance） |
| 规格型号 | D8 Advance |
| 生产厂家 | 德国Bruker |
| 仪器简介 | X射线衍射仪主要测试功能包括X射线粉末衍射、掠入射衍射及高温（~1200℃）条件下的X射线衍射，能够提供粉末、块状、液态的多晶样品的常规物相分析和半定量分析，晶胞参数的测定、修正、未知多晶样品的X射线衍射指标化、晶粒尺寸和结晶度测定。还可对材料的残余应力、织构及薄膜反射率进行测试和分析。配备的LynxEye XE阵列探测器共由192个子探测器阵列组成，具有优异的分辨率及信噪比；探测效率是普通闪烁探测器的10倍以上，普通样品可在7分钟左右测试完成；具有优异的能量分辨率，无需单色器，即可有效去除含铁样品的荧光。步进马达加光学编码精密测角仪可使角度重现性达到±0.0001°，是目前最高精度的测角仪。 |
| 性能指标 | 工作功率：1.6kW（40kV，40mA） 靶材：铜靶、钴靶 探测器：LynxEye XE阵列探测器 扫描范围：0°～140 ° 测角仪精度：0.0001° 准确度≤0.02° 测试温度：室温～ 1200℃ 多功能样品台：标准样品台、尤拉环样品台、高温样品台 |
| 测试项目 | X射线粉末衍射X射线掠入射衍射高温X射线衍射（室温~1200℃）应力测试织构测试 |
| 样品要求 | 块状样品标准尺寸：10*10*1mm (厚度最多不要超过12mm)要求样品表面平整粉末样品要求颗粒不超过400目 |
| 设备负责人 | 设备负责人：贾彦彦 联系电话：021-39194268 Email：jiayanyan@sinap.ac.cn |
