| 仪器名称 | 透射电子显微镜 |
| 规格型号 | Tecnai G2 F20 S-TWIN |
| 生产厂家 | 美国 FEI公司 |
| 仪器简介 | 透射电子显微镜是利用经加速和聚集的电子束充当照明光源而进行放大成像的大型显微分析设备。主要应用于对材料的内部微观结构分析，配合能谱仪可以对微区进行定性及半定量的成分分析。 |
| 性能指标 | 电子枪：FEG场发射电子枪 加速电压：200 kV 放大倍数： 25X – 1050000X 点分辨率： 0.24nm 线分辨率： 0.14 nm 扫描透射分辨率：0.19nm 样品台最大倾斜角：α±40°β±30° 元素检测范围：5B-92U； 能谱能量分辨率: 136ev CCD相机：Gatan公司832相机 样品杆： 美国FEI公司单倾样品杆、低背景双倾样品杆 美国Gatan公司双倾加热样品杆（室温-800℃）、单倾拉伸样品杆（0-1500微米） |
| 测试项目 | 低倍形貌像、高分辨像 (HRTEM)、衍衬像（明、暗场像）、高角环形暗场像（Z-衬度像）、选区电子衍射、会聚束电子衍射以及元素的点、线和面分析 |
| 样品要求 | 块体材料：直径3mm圆片（不提供制样服务）粉末材料：碳支持膜分散其他材料：客户自制 |
| 设备负责人 | 设备负责人：刘仁多 联系电话：021-39194813 Email：liurenduo@sinap.ac.cn |
