| 仪器名称 | X射线荧光光谱仪 |
| 规格型号 | ZSX Primus |
| 生产厂家 | 日本理学 |
| 仪器简介 | 日本理学ZSX Primus下照射荧光光谱仪，可对从O到U之间的元素进行定量和半定量元素测量，具有超尖锐超薄窗X射线管(75um)；流气式和高能闪烁式探测器；坚固耐用，精确和快速的独立转动测角仪。 |
| 性能指标 | 测量范围：从O到U之间的元素进行定量和半定量元素测量 样品直径：Φ15 mm到Φ40 mm 样品要求：表面光滑 测量精度：ppm级别 气氛：P10气体 |
| 测试项目 | 从O到U之间的元素进行定量和半定量元素测量。 |
| 样品要求 | 固态样品，圆片状，φ15-φ50mm，厚度0.5-4mm。上下表面光滑 |
| 设备负责人 | 设备负责人：王奕云 联系电话：021-39534077 Email：wangyiyun@sinap.ac.cn |
