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X射线衍射仪(X‘Pert Pro MPD)
规格型号:X‘Pert Pro MPD
生产厂家:荷兰Nalytical 公司
设备状态: 良好
实验室认证:无
设备负责人: 蒋锋
仪器详细信息
仪器名称 X射线衍射仪(X‘Pert Pro MPD)
规格型号 X‘Pert Pro MPD
生产厂家 荷兰Nalytical 公司
仪器简介 X射线粉末衍射仪由X射线发生器(X光管)、测角仪、探测器,以及计算机系统组成。X光管为Cu靶,最大电压60kV,最大电流55mA,最大输出功率3kW。测角仪为样品水平放置型,2θ角度范围1°~160°,在测试过程中样品位置保持不变,X光管和探测器绕样品相对转动。预校准光路全模块化,不同光路系统及各种样品台等附件均可以在几分钟内实现高精度的更换。PIXcel探测器接收效率、灵敏度、稳定性高。配备相应软件及PDF-2国际粉末衍射数据库,可进行物相定性定量分析,点阵参数测定。 该仪器用于干法分离技术中钍铀氟盐的高温电解产物、氟盐高温水解产物的物相分析。
性能指标

X光管:铜靶

最大功率:2.2 kW

最大管压:60 kV

最大管流:55 mA

焦斑:长细焦斑(12X0.4 mm

测试温度:室温1200

测角仪: 扫描方式为θ/θ2θ/θ,模式角度重现性为±0.0001°(空载)

探测器: PIXcel探测器,1D

测试项目 粉末、或片状样品的物相分析
样品要求 样品可以是金属、非金属、有机、无机材料粉末。金属样品如块状、板状、圆拄状要求磨成一个平面,面积不小于10X10毫米,如果面积太小可以用几块粘贴一起。 对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向,衍射强度异常。因此要求测试时合理选择响应的方向平面。 对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变),测量残余奥氏体,要求样品不能简单粗磨,要求制备成金相样品,并进行普通抛光或电解抛光,消除表面应变层。 粉末样品要求磨成320目的粒度,约40微米。粒度粗大衍射强度底,峰形不好,分辨率低。要了解样品的物理化学性质,如是否易燃,易潮解,易腐蚀、有毒、易挥发。 粉末样品要求在3克左右,如果太少也需5毫克。
设备负责人 设备负责人:蒋锋
联系电话:021-39194099
Email:jiangfeng@sinap.ac.cn
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